Chroma 58601 烧机测试系统

烧机-可靠度&老化测试 

      Chroma 58601是ㄧ提供高密度高精度多通道SMU，温度控制与可符合不同光电半导体。可供发光二极体，雷射半导体，光电侦测器与其他半导体使用。 每个模组可测试80组独立SMU，可提供待测物电流与偏压并量测之。

电流源 

      每片独立的电流电压卡SMU可提供五种不同的电流等级，由5Amp 到20 与40Amp. 独立的电压量测可供高串联数的待测物测试于高电压等级. 多组的电流源也可藉由并联形式提高电流的输出能力。

高弹性化设计 

      Chroma 使Conversion Kit由半导体转换到光电半导体使用。应用Conversion Kit于58601烧机测试可以拥有以下的优点:
      * 高密度通道
      * 高电流输出
      * 光电流监控
      * 监控量测光电半导体
      * 暗电流量测
      * 提供偏压
      * 独立电压量测
      * Bypass of Failing Devices
      * 符合各种雷射光电半导体

高效率运作

      * 提供高温控制，降低老化时间与较少的通道，同时可降低成本，提供快速结果
      * 高密度设计降低使用空间，优于其他设计

      * 通过制造商进行批量测试，Carriers可用于烧机测试与特性测试，软体可主动追踪资料于烧机与特性测试
      * 在利用Change kit 的设计，在相同基础设备下可快速切换供不同种待测物使用，待测物降低成本
      * 精细的probing 方式可提供次系统与高单价包装待测物
      * 热插拔电源模组降低故障机率于MTBF/MTTR测试